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文献
J-GLOBAL ID:201302263800328697   整理番号:13A1443789

SEL-有感領域写像および金属線からの反射と回折がレーザSEE試験に及ぼす影響

SEL-Sensitive Area Mapping and the Effects of Reflection and Diffraction From Metal Lines on Laser SEE Testing
著者 (14件):
DODDS N. A.
(Vanderbilt Univ., TN, USA)
DODDS N. A.
(Sandia National Lab., NM, USA)
HOOTEN N. C.
(Vanderbilt Univ., TN, USA)
REED R. A.
(Vanderbilt Univ., TN, USA)
SCHRIMPF R. D.
(Vanderbilt Univ., TN, USA)
WARNER J. H.
(Naval Res. Lab., Washington, D.C., USA)
ROCHE N. J.-H.
(Naval Res. Lab., Washington, D.C., USA)
MCMORROW D.
(Naval Res. Lab., Washington, D.C., USA)
BUCHNER S.
(Naval Res. Lab., Washington, D.C., USA)
JORDAN S.
(Jazz Semiconductor, CA, USA)
PELLISH J. A.
(NASA, MD, USA)
BENNETT W. G.
(Vanderbilt Univ., TN, USA)
GASPARD N. J.
(Vanderbilt Univ., TN, USA)
KING M. P.
(Vanderbilt Univ., TN, USA)

資料名:
IEEE Transactions on Nuclear Science  (IEEE Transactions on Nuclear Science)

巻: 60  号: 4,Pt.1  ページ: 2550-2558  発行年: 2013年08月 
JST資料番号: C0235A  ISSN: 0018-9499  CODEN: IETNAE  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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