文献
J-GLOBAL ID:201302263917442644
整理番号:13A0403611
シーケンシャル論理回路の信頼性解析
SEQUENTIAL LOGIC CIRCUITS RELIABILITY ANALYSIS
著者 (2件):
JAHANIRAD Hadi
(Iran Univ. Sci. and Technol., Tehran, IRN)
,
MOHAMMADI Karim
(Iran Univ. Sci. and Technol., Tehran, IRN)
資料名:
Journal of Circuits, Systems, and Computers
(Journal of Circuits, Systems, and Computers)
巻:
21
号:
5
ページ:
1250040.1-1250040.17
発行年:
2012年08月
JST資料番号:
W0526A
ISSN:
0218-1266
資料種別:
逐次刊行物 (A)
発行国:
シンガポール (SGP)
言語:
英語 (EN)