文献
J-GLOBAL ID:201302264625332925
整理番号:13A1568495
球面収差補正器を搭載したSTEMによる原子分解能二次電子像
Atomic Resolution Secondary Electron Imaging with Aberration Corrected Scanning Transmission Electron Microscope
著者 (7件):
稲田博実
((株)日立ハイテクノロジーズ 科学・医用システム事業統括本部)
,
田村圭司
((株)日立ハイテクノロジーズ 科学・医用システム事業統括本部)
,
鈴木裕也
((株)日立ハイテクノロジーズ 科学・医用システム事業統括本部)
,
佐藤高広
((株)日立ハイテクノロジーズ 科学・医用システム事業統括本部)
,
今野充
((株)日立ハイテクノロジーズ 科学・医用システム事業統括本部)
,
中村邦康
((株)日立ハイテクノロジーズ 科学・医用システム事業統括本部)
,
ZHU Yimei
(Brookhaven National Lab. Upton)
資料名:
表面科学
(JSSSJ)
巻:
34
号:
5
ページ:
247-252 (J-STAGE)
発行年:
2013年
JST資料番号:
F0940B
ISSN:
0388-5321
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
解説
発行国:
日本 (JPN)
言語:
英語 (EN)