文献
J-GLOBAL ID:201302264678111432
整理番号:13A0153446
イオンスパッタリングによるバルク金属ガラスのナノメータからマイクロメータスケールの不均質エッチング
Nanometer to micrometer scaled inhomogeneous etching of bulk metallic glasses by ion sputtering
著者 (4件):
DENG J.w.
(Shenyang National Lab. for Materials Sci., Inst. of Metal Res., Chinese Acad. of Sciences, 72 Wenhua Road, Shenyang ...)
,
DU K.
(Shenyang National Lab. for Materials Sci., Inst. of Metal Res., Chinese Acad. of Sciences, 72 Wenhua Road, Shenyang ...)
,
WU B.
(Shenyang National Lab. for Materials Sci., Inst. of Metal Res., Chinese Acad. of Sciences, 72 Wenhua Road, Shenyang ...)
,
SUI M.l.
(Inst. of Microstructure and Property of Advanced Materials, Beijing Univ. of Technol., Beijing 100124, CHN)
資料名:
Intermetallics
(Intermetallics)
巻:
34
ページ:
75-82
発行年:
2013年03月
JST資料番号:
W0672A
ISSN:
0966-9795
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
イギリス (GBR)
言語:
英語 (EN)