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文献
J-GLOBAL ID:201302264678111432   整理番号:13A0153446

イオンスパッタリングによるバルク金属ガラスのナノメータからマイクロメータスケールの不均質エッチング

Nanometer to micrometer scaled inhomogeneous etching of bulk metallic glasses by ion sputtering
著者 (4件):
DENG J.w.
(Shenyang National Lab. for Materials Sci., Inst. of Metal Res., Chinese Acad. of Sciences, 72 Wenhua Road, Shenyang ...)
DU K.
(Shenyang National Lab. for Materials Sci., Inst. of Metal Res., Chinese Acad. of Sciences, 72 Wenhua Road, Shenyang ...)
WU B.
(Shenyang National Lab. for Materials Sci., Inst. of Metal Res., Chinese Acad. of Sciences, 72 Wenhua Road, Shenyang ...)
SUI M.l.
(Inst. of Microstructure and Property of Advanced Materials, Beijing Univ. of Technol., Beijing 100124, CHN)

資料名:
Intermetallics  (Intermetallics)

巻: 34  ページ: 75-82  発行年: 2013年03月 
JST資料番号: W0672A  ISSN: 0966-9795  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: イギリス (GBR)  言語: 英語 (EN)
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