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文献
J-GLOBAL ID：201302264925052223
整理番号：13A1871597
Seebeck発生と電荷モニタリングによる超高精密回路診断
Ultra High Precision Circuit Diagnosis Through Seebeck Generation and Charge Monitoring
BOIT Christian
(TUB Berlin Univ. Technol., Berlin, DEU)
,
HELFMEIER Clemens
(TUB Berlin Univ. Technol., Berlin, DEU)
,
NEDOSPASOV Dmitry
(TUB Berlin Univ. Technol., Berlin, DEU)
,
FOX Alexander
(IHP Frankfurt Oder, Frankfurt (Oder), DEU)
資料名：
Proceedings of the International Symposium on the Physical & Failure Analysis of Integrated Circuits
(Proceedings of the International Symposium on the Physical & Failure Analysis of Integrated Circuits)
巻： 20th ページ： 17-21 発行年： 2013年
JST資料番号： W1259A ISSN： 1946-1542 資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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