文献
J-GLOBAL ID:201302265444927192
整理番号:13A0408378
集束イオンビームを使ったナノ構造化によるフォトダイオードのその場電気評価
In-situ electrical characterisation of a photodiode during nano-structuring with a focussed ion beam
著者 (3件):
RINDERMANN Jan Junis
(Univ. of Southampton, School of Physics & Astronomy, SO17 1BJ, Southampton, GBR)
,
HENINI Mohammed
(Univ. of Nottingham, School of Physics & Astronomy, NG7 2RD, Nottingham, GBR)
,
LAGOUDAKIS Pavlos G.
(Univ. of Southampton, School of Physics & Astronomy, SO17 1BJ, Southampton, GBR)
資料名:
Applied Physics. A. Materials Science & Processing
(Applied Physics. A. Materials Science & Processing)
巻:
110
号:
4
ページ:
935-941
発行年:
2013年03月
JST資料番号:
D0256C
ISSN:
0947-8396
CODEN:
APHYCC
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
ドイツ (DEU)
言語:
英語 (EN)