文献
J-GLOBAL ID:201302266306718538
整理番号:13A1697972
擬似格子整合LWIR HgCdTe/CdZnTe層における歪測定
Strain Determination in Quasi-Lattice-Matched LWIR HgCdTe/CdZnTe Layers
著者 (6件):
BALLET P.
(CEA-LETI, MINATEC Campus, 17, Rue des Martys, 38054, Grenoble, FRA)
,
BAUDRY X.
(CEA-LETI, MINATEC Campus, 17, Rue des Martys, 38054, Grenoble, FRA)
,
POLGE B.
(CEA-LETI, MINATEC Campus, 17, Rue des Martys, 38054, Grenoble, FRA)
,
BRELLIER D.
(CEA-LETI, MINATEC Campus, 17, Rue des Martys, 38054, Grenoble, FRA)
,
MERLIN J.
(CEA-LETI, MINATEC Campus, 17, Rue des Martys, 38054, Grenoble, FRA)
,
GERGAUD P.
(CEA-LETI, MINATEC Campus, 17, Rue des Martys, 38054, Grenoble, FRA)
資料名:
Journal of Electronic Materials
(Journal of Electronic Materials)
巻:
42
号:
11
ページ:
3133-3137
発行年:
2013年11月
JST資料番号:
D0277B
ISSN:
0361-5235
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)