文献
J-GLOBAL ID:201302266967019067
整理番号:13A0474851
単一分子の高分解能原子間力顕微鏡及び走査型トンネル顕微鏡用の様々なチップ
Different tips for high-resolution atomic force microscopy and scanning tunneling microscopy of single molecules
著者 (4件):
MOHN Fabian
(IBM Res. - Zurich, CH-8803 Rueschlikon, CHE)
,
SCHULER Bruno
(IBM Res. - Zurich, CH-8803 Rueschlikon, CHE)
,
GROSS Leo
(IBM Res. - Zurich, CH-8803 Rueschlikon, CHE)
,
MEYER Gerhard
(IBM Res. - Zurich, CH-8803 Rueschlikon, CHE)
資料名:
Applied Physics Letters
(Applied Physics Letters)
巻:
102
号:
7
ページ:
073109-073109-4
発行年:
2013年02月18日
JST資料番号:
H0613A
ISSN:
0003-6951
CODEN:
APPLAB
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
短報
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)