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文献
J-GLOBAL ID：201302268226301434
整理番号：13A0702047
走査型電圧プローブを用いた比接触抵抗の測定
Measurement of specific contact resistivity using scanning voltage probes
WANG Weigang
(Geballe Lab. for Advanced Materials, Stanford Univ., Stanford, California 94305, USA)
,
BEASLEY Malcolm R.
(Geballe Lab. for Advanced Materials, Stanford Univ., Stanford, California 94305, USA)
資料名：
Applied Physics Letters
(Applied Physics Letters)
巻： 102 号： 13 ページ： 131605-131605-4 発行年： 2013年04月01日
JST資料番号： H0613A ISSN： 0003-6951 CODEN： APPLAB 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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