文献
J-GLOBAL ID:201302268424944901
整理番号:13A1769693
薄膜中及び薄膜上のポジトロニウムの3光子自己消滅比の測定 薄膜モルフォロジーを決定するためのツール
Measuring the three-photon self-annihilation fraction of positronium in and above thin films: A tool for determining film morphology
著者 (2件):
TOWNROW S.
(Dep. of Physics, Univ. of Bath, Bath BA2 7AY, GBR)
,
COLEMAN P. G.
(Dep. of Physics, Univ. of Bath, Bath BA2 7AY, GBR)
資料名:
Review of Scientific Instruments
(Review of Scientific Instruments)
巻:
84
号:
10
ページ:
103908-103908-5
発行年:
2013年10月
JST資料番号:
D0517A
ISSN:
0034-6748
CODEN:
RSINAK
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)