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文献
J-GLOBAL ID：201302269430303523
整理番号：13A1934343
光起電力モジュールの電気的特性に及ぼす封止材変色と剥離の影響
The effect of encapsulant discoloration and delamination on the electrical characteristics of photovoltaic module
PARK N.c.
(Components & Materials Physics Res. Center, Korea Electronic Technol. Inst., #68 Yaptap-dong, Bundang-gu ...)
,
PARK N.c.
(Dep. of Materials Sci. and Engineering, Korea Univ., Anam-dong, Seongbuk-gu, Seoul 136-701, KOR)
,
JEONG J.s.
(Components & Materials Physics Res. Center, Korea Electronic Technol. Inst., #68 Yaptap-dong, Bundang-gu ...)
,
KANG B.j.
(Dep. of Materials Sci. and Engineering, Korea Univ., Anam-dong, Seongbuk-gu, Seoul 136-701, KOR)
,
KIM D.h.
(Dep. of Materials Sci. and Engineering, Korea Univ., Anam-dong, Seongbuk-gu, Seoul 136-701, KOR)
資料名：
Microelectronics Reliability
(Microelectronics Reliability)
巻： 53 号： 9-11 ページ： 1818-1822 発行年： 2013年09月
JST資料番号： C0530A ISSN： 0026-2714 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： イギリス (GBR) 言語： 英語 (EN)
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