文献
J-GLOBAL ID:201302269543557050
整理番号:13A1936925
光電子回折にる はげ落ちたグラフェンの端と積み重ね構造の評価
Characterizing Edge and Stacking Structures of Exfoliated Graphene by Photoelectron Diffraction
著者 (9件):
MATSUI Fumihiko
(Nara Inst. Sci. and Technol., Nara, JPN)
,
ISHII Ryo
(Nara Inst. Sci. and Technol., Nara, JPN)
,
MATSUDA Hiroyuki
(Nara Inst. Sci. and Technol., Nara, JPN)
,
MORITA Makoto
(Nara Inst. Sci. and Technol., Nara, JPN)
,
KITAGAWA Satoshi
(Nara Inst. Sci. and Technol., Nara, JPN)
,
MATSUSHITA Tomohiro
(Japan Synchrotron Radiation Res. Inst. (JASRI), Hyogo, JPN)
,
KOH Shinji
(Nara Inst. Sci. and Technol., Nara, JPN)
,
KOH Shinji
(Aoyama Gakuin Univ., Sagamihara, JPN)
,
DAIMON Hiroshi
(Nara Inst. Sci. and Technol., Nara, JPN)
資料名:
Japanese Journal of Applied Physics
(Japanese Journal of Applied Physics)
巻:
52
号:
11,Issue 1
ページ:
110110.1-110110.5
発行年:
2013年11月25日
JST資料番号:
G0520B
ISSN:
0021-4922
CODEN:
JJAPB6
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
イギリス (GBR)
言語:
英語 (EN)