文献
J-GLOBAL ID:201302270244127373
整理番号:13A1871740
ESD保護のためのダミー-ゲート双方向SCR(dSCR)デバイスの解析
Analysis of Dummy-Gate Dual-Directional SCR (dSCR) Device for ESD Protection
著者 (6件):
WANG Yuan
(Peking Univ., Beijing, CHN)
,
LU Guangyi
(Peking Univ., Beijing, CHN)
,
CAO Jian
(Peking Univ., Beijing, CHN)
,
JIA Song
(Peking Univ., Beijing, CHN)
,
ZHANG Ganggang
(Peking Univ., Beijing, CHN)
,
ZHANG Xing
(Peking Univ., Beijing, CHN)
資料名:
Proceedings of the International Symposium on the Physical & Failure Analysis of Integrated Circuits
(Proceedings of the International Symposium on the Physical & Failure Analysis of Integrated Circuits)
巻:
20th
ページ:
720-723
発行年:
2013年
JST資料番号:
W1259A
ISSN:
1946-1542
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
短報
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)