文献
J-GLOBAL ID:201302271560782894
整理番号:13A1769696
電気的検出磁気共鳴顕微鏡 電気的検出磁気共鳴法と組み合わせた光導電性原子間力顕微鏡法
The electrically detected magnetic resonance microscope: Combining conductive atomic force microscopy with electrically detected magnetic resonance
著者 (11件):
KLEIN Konrad
(Walter Schottky Inst., Technische Universitaet Muenchen, Am Coulombwall 4, 85748 Garching, DEU)
,
HAUER Benedikt
(Walter Schottky Inst., Technische Universitaet Muenchen, Am Coulombwall 4, 85748 Garching, DEU)
,
STOIB Benedikt
(Walter Schottky Inst., Technische Universitaet Muenchen, Am Coulombwall 4, 85748 Garching, DEU)
,
TRAUTWEIN Markus
(Walter Schottky Inst., Technische Universitaet Muenchen, Am Coulombwall 4, 85748 Garching, DEU)
,
MATICH Sonja
(Walter Schottky Inst., Technische Universitaet Muenchen, Am Coulombwall 4, 85748 Garching, DEU)
,
HUEBL Hans
(Walther-Meissner-Institut, Bayerische Akad. der Wissenschaften, Walther-Meissner-Str. 8, 85748 Garching, DEU)
,
ASTAKHOV Oleksandr
(IEK5-Photovoltaik, Forschungszentrum Juelich, Leo-Brandt-Strasse, 52425 Juelich, DEU)
,
FINGER Friedhelm
(IEK5-Photovoltaik, Forschungszentrum Juelich, Leo-Brandt-Strasse, 52425 Juelich, DEU)
,
BITTL Robert
(Freie Universitaet Berlin, Fachbereich Physik, Arnimallee 14, 14195 Berlin, DEU)
,
STUTZMANN Martin
(Walter Schottky Inst., Technische Universitaet Muenchen, Am Coulombwall 4, 85748 Garching, DEU)
,
BRANDT Martin S.
(Walter Schottky Inst., Technische Universitaet Muenchen, Am Coulombwall 4, 85748 Garching, DEU)
資料名:
Review of Scientific Instruments
(Review of Scientific Instruments)
巻:
84
号:
10
ページ:
103911-103911-13
発行年:
2013年10月
JST資料番号:
D0517A
ISSN:
0034-6748
CODEN:
RSINAK
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)