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文献
J-GLOBAL ID：201302271560782894
整理番号：13A1769696
電気的検出磁気共鳴顕微鏡 電気的検出磁気共鳴法と組み合わせた光導電性原子間力顕微鏡法
The electrically detected magnetic resonance microscope: Combining conductive atomic force microscopy with electrically detected magnetic resonance
KLEIN Konrad
(Walter Schottky Inst., Technische Universitaet Muenchen, Am Coulombwall 4, 85748 Garching, DEU)
,
HAUER Benedikt
(Walter Schottky Inst., Technische Universitaet Muenchen, Am Coulombwall 4, 85748 Garching, DEU)
,
STOIB Benedikt
(Walter Schottky Inst., Technische Universitaet Muenchen, Am Coulombwall 4, 85748 Garching, DEU)
,
TRAUTWEIN Markus
(Walter Schottky Inst., Technische Universitaet Muenchen, Am Coulombwall 4, 85748 Garching, DEU)
,
MATICH Sonja
(Walter Schottky Inst., Technische Universitaet Muenchen, Am Coulombwall 4, 85748 Garching, DEU)
,
HUEBL Hans
(Walther-Meissner-Institut, Bayerische Akad. der Wissenschaften, Walther-Meissner-Str. 8, 85748 Garching, DEU)
,
ASTAKHOV Oleksandr
(IEK5-Photovoltaik, Forschungszentrum Juelich, Leo-Brandt-Strasse, 52425 Juelich, DEU)
,
FINGER Friedhelm
(IEK5-Photovoltaik, Forschungszentrum Juelich, Leo-Brandt-Strasse, 52425 Juelich, DEU)
,
BITTL Robert
(Freie Universitaet Berlin, Fachbereich Physik, Arnimallee 14, 14195 Berlin, DEU)
,
STUTZMANN Martin
(Walter Schottky Inst., Technische Universitaet Muenchen, Am Coulombwall 4, 85748 Garching, DEU)
,
BRANDT Martin S.
(Walter Schottky Inst., Technische Universitaet Muenchen, Am Coulombwall 4, 85748 Garching, DEU)
資料名：
Review of Scientific Instruments
(Review of Scientific Instruments)
巻： 84 号： 10 ページ： 103911-103911-13 発行年： 2013年10月
JST資料番号： D0517A ISSN： 0034-6748 CODEN： RSINAK 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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