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文献
J-GLOBAL ID：201302272379296275
整理番号：13A1229043
光学及びX線法によるZnO構造の評価
Characterization of ZnO structures by optical and X-ray methods
PETRIK P.
(Fraunhofer Inst. for Integrated Systems and Device Technol., Schottkystrasse 10, 91058 Erlangen, DEU)
,
PETRIK P.
(Inst. for Technical Physics and Materials Sci. (MFA), Res. Center for Natural Sciences, Konkoly Thege Rd. 29-33 ...)
,
POLLAKOWSKI B.
(Physikalisch-Technische Bundesanstalt (PTB), Abbestr. 2-12, 10587 Berlin, DEU)
,
ZAKEL S.
(Physikalisch-Technische Bundesanstalt (PTB), Bundesallee 100, D-38116 Braunschweig, DEU)
,
GUMPRECHT T.
(Fraunhofer Inst. for Integrated Systems and Device Technol., Schottkystrasse 10, 91058 Erlangen, DEU)
,
GUMPRECHT T.
(Erlangen Graduate School in Advanced Optical Technologies (SAOT), Paul-Gordan-Strasse 9, 91052 Erlangen, DEU)
,
BECKHOFF B.
(Physikalisch-Technische Bundesanstalt (PTB), Abbestr. 2-12, 10587 Berlin, DEU)
,
LEMBERGER M.
(Fraunhofer Inst. for Integrated Systems and Device Technol., Schottkystrasse 10, 91058 Erlangen, DEU)
,
LABADI Z.
(Inst. for Technical Physics and Materials Sci. (MFA), Res. Center for Natural Sciences, Konkoly Thege Rd. 29-33 ...)
,
BAJI Z.
(Inst. for Technical Physics and Materials Sci. (MFA), Res. Center for Natural Sciences, Konkoly Thege Rd. 29-33 ...)
,
JANK M.
(Fraunhofer Inst. for Integrated Systems and Device Technol., Schottkystrasse 10, 91058 Erlangen, DEU)
,
NUTSCH A.
(Physikalisch-Technische Bundesanstalt (PTB), Abbestr. 2-12, 10587 Berlin, DEU)
資料名：
Applied Surface Science
(Applied Surface Science)
巻： 281 ページ： 123-128 発行年： 2013年09月15日
JST資料番号： B0707B ISSN： 0169-4332 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： オランダ (NLD) 言語： 英語 (EN)
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