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文献
J-GLOBAL ID：201302274405876083
整理番号：13A0015157
600V級高電圧集積回路における新しいダブルウエル分離構造に対する電気特性研究
Electrical Characteristic Investigation on a Novel Double-Well Isolation Structure in 600-V-Class High-Voltage Integrated Circuits
SUN Weifeng
(Southeast Univ., Nanjing, CHN)
,
ZHU Jing
(Southeast Univ., Nanjing, CHN)
,
ZHANG Long
(Southeast Univ., Nanjing, CHN)
,
QIAN Qinsong
(Southeast Univ., Nanjing, CHN)
,
HOU Bo
(Southeast Univ., Nanjing, CHN)
,
LU Shengli
(Southeast Univ., Nanjing, CHN)
資料名：
IEEE Transactions on Electron Devices
(IEEE Transactions on Electron Devices)
巻： 59 号： 12 ページ： 3477-3481 発行年： 2012年12月
JST資料番号： C0222A ISSN： 0018-9383 CODEN： IETDAI 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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