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文献
J-GLOBAL ID：201302276428892518
整理番号：13A1081623
ミリ波までの単層オンウエハデバイスディエンベディングに対するラインシリーズシャント較正の適用
APPLYING LINE-SERIES-SHUNT CALIBRATION TO ONE-TIER ON-WAFER DEVICE DE-EMBEDDING UP TO MILLIMETER WAVES
HUANG Chien-Chang
(Yuan Ze Univ., Taoyuan, TWN)
,
CHEN Yu-Chuan
(Yuan Ze Univ., Taoyuan, TWN)
資料名：
Microwave and Optical Technology Letters
(Microwave and Optical Technology Letters)
巻： 55 号： 4 ページ： 744-747 発行年： 2013年04月
JST資料番号： T0712A ISSN： 0895-2477 資料種別： 逐次刊行物 (A)
発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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