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文献
J-GLOBAL ID:201302276848460176   整理番号:13A1529046

高温組立中のPCBビアのはんだ気泡の故障機構

Failure mechanism of solder bubbles in PCB vias during high-temperature assembly
著者 (6件):
CHEN Yuanming
(Univ. Electronic Sci. and Technol. China, Chengdu, CHN)
HE Wei
(Univ. Electronic Sci. and Technol. China, Chengdu, CHN)
ZHOU Guoyun
(Univ. Electronic Sci. and Technol. China, Chengdu, CHN)
TAO Zhihua
(Univ. Electronic Sci. and Technol. China, Chengdu, CHN)
WANG Yang
(Fifth Res. Inst., Ministry of Ind. and Information Technol. China, Guangzhou, CHN)
LUO Daojun
(Fifth Res. Inst., Ministry of Ind. and Information Technol. China, Guangzhou, CHN)

資料名:
Circuit World  (Circuit World)

巻: 39  号:ページ: 133-138  発行年: 2013年 
JST資料番号: H0927A  ISSN: 0305-6120  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: イギリス (GBR)  言語: 英語 (EN)
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