文献
J-GLOBAL ID:201302276848460176
整理番号:13A1529046
高温組立中のPCBビアのはんだ気泡の故障機構
Failure mechanism of solder bubbles in PCB vias during high-temperature assembly
著者 (6件):
CHEN Yuanming
(Univ. Electronic Sci. and Technol. China, Chengdu, CHN)
,
HE Wei
(Univ. Electronic Sci. and Technol. China, Chengdu, CHN)
,
ZHOU Guoyun
(Univ. Electronic Sci. and Technol. China, Chengdu, CHN)
,
TAO Zhihua
(Univ. Electronic Sci. and Technol. China, Chengdu, CHN)
,
WANG Yang
(Fifth Res. Inst., Ministry of Ind. and Information Technol. China, Guangzhou, CHN)
,
LUO Daojun
(Fifth Res. Inst., Ministry of Ind. and Information Technol. China, Guangzhou, CHN)
資料名:
Circuit World
(Circuit World)
巻:
39
号:
3
ページ:
133-138
発行年:
2013年
JST資料番号:
H0927A
ISSN:
0305-6120
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
イギリス (GBR)
言語:
英語 (EN)