文献
J-GLOBAL ID:201302277189692249
整理番号:13A0752766
溶液プロセスZnO薄膜トランジスタの空間トラップ準位分布と安定性
Stability and spacial trap state distribution of solution processed ZnO-thin film transistors
著者 (3件):
ORTEL Marlis
(School of Engineering and Sci., Jacobs Univ. Bremen, Campus Ring 1, 28719 Bremen, DEU)
,
PITTNER Steve
(School of Engineering and Sci., Jacobs Univ. Bremen, Campus Ring 1, 28719 Bremen, DEU)
,
WAGNER Veit
(School of Engineering and Sci., Jacobs Univ. Bremen, Campus Ring 1, 28719 Bremen, DEU)
資料名:
Journal of Applied Physics
(Journal of Applied Physics)
巻:
113
号:
15
ページ:
154502-154502-6
発行年:
2013年04月21日
JST資料番号:
C0266A
ISSN:
0021-8979
CODEN:
JAPIAU
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)