文献
J-GLOBAL ID:201302277511515323
整理番号:13A1698285
不連続な銀膜のI-V特性に及ぼす歪みの影響とそれらのゲージ率
Effect of strain on the I-V characteristics of discontinuous silver films and determination of their gauge factor
著者 (1件):
EL-GAMAL S.
(Ain Shams Univ., Physics Dep., Fac. of Education, Cairo, Egypt)
資料名:
Journal of Materials Science. Materials in Electronics
(Journal of Materials Science. Materials in Electronics)
巻:
24
号:
11
ページ:
4311-4315
発行年:
2013年11月
JST資料番号:
W0003A
ISSN:
0957-4522
CODEN:
JMTSAS
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)