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文献
J-GLOBAL ID：201302277631600065
整理番号：13A1340612
高電圧電力素子の自己加熱誘導ホットキャリア注入ストレス挙動の調査
Investigation of Self-Heating Induced Hot-Carrier-Injection Stress Behavior in High-Voltage Power Devices
HUANG Y.-H.
(Taiwan Semiconductor Manufacturing Co.)
,
LEU L. Y.
(Taiwan Semiconductor Manufacturing Co.)
,
LIU C. C.
(Taiwan Semiconductor Manufacturing Co.)
,
LEE Y.-H.
(Taiwan Semiconductor Manufacturing Co.)
,
WANG J. S.
(Taiwan Semiconductor Manufacturing Co.)
,
MEHTA A.
(Taiwan Semiconductor Manufacturing Co.)
,
WU K.
(Taiwan Semiconductor Manufacturing Co.)
,
LU Hui-Ting
(Taiwan Semiconductor Manufacturing Co.)
,
SU Po-Chih
(Taiwan Semiconductor Manufacturing Co.)
,
CHIANG Jui-Ping
(Taiwan Semiconductor Manufacturing Co.)
,
CHOU H-L.
(Taiwan Semiconductor Manufacturing Co.)
,
JONG Y.-C.
(Taiwan Semiconductor Manufacturing Co.)
,
TUAN H.-C.
(Taiwan Semiconductor Manufacturing Co.)
資料名：
Annual Proceedings. IEEE International Reliability Physics Symposium
(Annual Proceedings. IEEE International Reliability Physics Symposium)
巻： 2013 Vol.2 ページ： 579-583 発行年： 2013年
JST資料番号： A0631A ISSN： 1541-7026 資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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