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文献
J-GLOBAL ID：201302280194099522
整理番号：13A1584673
共焦点マイクロXRF分析によるmicroSDカードの深さ選択的元素イメージング
Depth-selective elemental imaging of microSD card by confocal micro XRF analysis
NAKAZAWA Takashi
(Osaka City Univ.-Applied Chemistry, Osaka, JPN)
,
NAKAZAWA Takashi
(Chuo Univ., Tokyo, JPN)
,
TSUJI Kouichi
(Osaka City Univ.-Applied Chemistry, Osaka, JPN)
資料名：
X-Ray Spectrometry
(X-Ray Spectrometry)
巻： 42 号： 3 ページ： 123-127 発行年： 2013年05月
JST資料番号： D0456B ISSN： 0049-8246 CODEN： XRSPAX 資料種別： 逐次刊行物 (A)
発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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