文献
J-GLOBAL ID:201302282736498952
整理番号:13A0921789
多結晶ハフニウム酸化物誘電体における電気的ストレス誘起ブレークダウンのマクロスコピックモデリング
Microscopic Modeling of Electrical Stress-Induced Breakdown in Poly-Crystalline Hafnium Oxide Dielectrics
著者 (5件):
VANDELLI Luca
(Universita di Modena e Reggio Emilia, Reggio Emilia, ITA)
,
PADOVANI Andrea
(Universita di Modena e Reggio Emilia, Reggio Emilia, ITA)
,
PADOVANI Andrea
(INTERMECH MO. RE. Center, Modena, ITA)
,
LARCHER Luca
(Universita di Modena e Reggio Emilia, Reggio Emilia, ITA)
,
BERSUKER Gennadi
(SEMATECH, NY, USA)
資料名:
IEEE Transactions on Electron Devices
(IEEE Transactions on Electron Devices)
巻:
60
号:
5
ページ:
1754-1762
発行年:
2013年05月
JST資料番号:
C0222A
ISSN:
0018-9383
CODEN:
IETDAI
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)