前のページに戻る
この文献は全文を取り寄せることができます
JDreamⅢ複写サービスから文献全文の複写（冊子体のコピー）をお申込みできます。
ご利用には、G-Searchデータベースサービスまたは、JDreamⅢのIDが必要です。
ご利用には、G-Searchデータベースサービスまたは、JDreamⅢのIDが必要です。
既に、G-Searchデータベースサービスまたは、JDreamⅢのIDをお持ちの方
JDreamⅢ複写サービスのご利用が初めての方
取り寄せる文献のタイトルと詳細
文献
J-GLOBAL ID：201302283280481307
整理番号：13A0721945
C面4H-SiC上のSiO2/SiC界面における移動度制約トラップの深準位過渡分光法特性評価
Deep-Level-Transient Spectroscopy Characterization of Mobility-Limiting Traps in SiO2/SiC interfaces on C-face 4H-SiC
HATAKEYAMA T.
(National Inst. Advanced Industrial Sci. and Technol. (AIST), Tsukuba, JPN)
,
SHIMIZU T.
(Toshiba Corp., Kawasaki, JPN)
,
SUZUKI T.
(Toshiba Corp., Kawasaki, JPN)
,
NAKABAYASHI Y.
(Toshiba Corp., Kawasaki, JPN)
,
OKUMURA H.
(National Inst. Advanced Industrial Sci. and Technol. (AIST), Tsukuba, JPN)
,
KIMOTO T.
(Kyoto Univ., Kyoto, JPN)
資料名：
Materials Science Forum
(Materials Science Forum)
巻： 740/742 ページ： 477-480 発行年： 2013年
JST資料番号： D0716B ISSN： 0255-5476 資料種別： 逐次刊行物 (A)
発行国： スイス (CHE) 言語： 英語 (EN)
JDreamⅢ複写サービスとは
JDreamⅢ複写サービスは、学術文献の全文を複写（コピー）して取り寄せできる有料サービスです。インターネットに公開されていない文献や、図書館に収録されていない文献の全文を、オンラインで取り寄せることができます。J-GLOBALの整理番号にも対応しているので、申し込みも簡単にできます。全文の複写（コピー）は郵送またはFAXでお送りします
※ご利用には、G-Searchデータベースサービスまたは、JDreamⅢのIDが必要です
※初めてご利用される方は、JDreamⅢ複写サービスのご案内をご覧ください。
※ご利用には、G-Searchデータベースサービスまたは、JDreamⅢのIDが必要です
※初めてご利用される方は、JDreamⅢ複写サービスのご案内をご覧ください。