文献
J-GLOBAL ID:201302283497566866
整理番号:13A1824686
バルク-酸化膜トラップモデルの比較:集中対分布回路
Comparison of Bulk-Oxide Trap Models: Lumped Versus Distributed Circuit
著者 (4件):
CHEN Han-Ping
(Univ. California, CA, USA)
,
AHN Jaesoo
(Stanford Univ., CA, USA)
,
MCINTYRE Paul C.
(Stanford Univ., CA, USA)
,
TAUR Yuan
(Univ. California, CA, USA)
資料名:
IEEE Transactions on Electron Devices
(IEEE Transactions on Electron Devices)
巻:
60
号:
11
ページ:
3920-3924
発行年:
2013年11月
JST資料番号:
C0222A
ISSN:
0018-9383
CODEN:
IETDAI
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)