文献
J-GLOBAL ID:201302285052395231
整理番号:13A0243517
AC動作下における多結晶シリコンTFT CMOSインバータの劣化
Degradation of Polycrystalline Silicon TFT CMOS Inverters under AC Operation
著者 (4件):
CHEN Wei
(Soochow Univ., Suzhou, CHN)
,
WANG Mingxiang
(Soochow Univ., Suzhou, CHN)
,
ZHOU Yan
(Soochow Univ., Suzhou, CHN)
,
WONG Man
(Hong Kong Univ. Sci. and Technol., HKG)
資料名:
IEEE Transactions on Electron Devices
(IEEE Transactions on Electron Devices)
巻:
60
号:
1
ページ:
295-300
発行年:
2013年01月
JST資料番号:
C0222A
ISSN:
0018-9383
CODEN:
IETDAI
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)