文献
J-GLOBAL ID:201302285059852751
整理番号:13A0794906
細胞の疲労試験
CELL FATIGUE TEST
著者 (4件):
FUKUI W.
(Osaka Univ., Osaka, JPN)
,
KANEKO M.
(Osaka Univ., Osaka, JPN)
,
SAKUMA S.
(Nagoya Univ., Nagoya, JPN)
,
ARAI F.
(Nagoya Univ., Nagoya, JPN)
資料名:
Technical Digest. IEEE Micro Electro Mechanical Systems
(Technical Digest. IEEE Micro Electro Mechanical Systems)
巻:
26th Vol.2
ページ:
1025-1028
発行年:
2013年
JST資料番号:
W0377A
ISSN:
1084-6999
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)