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文献
J-GLOBAL ID：201302285090368930
整理番号：13A0155024
NTCサーミスタ温度センサのワイヤの金属イオン移動に対する印加電圧の加速
Acceleration of applied voltage on metallic ion migration of wires in NTC thermistor temperature sensors
KIM Joo Hyung
(Div. of Mechanical Engineering, Hanyang Univ., 17 Haengdang-dong, Seongdong-gu, Seoul 133-791, KOR)
,
PARK Sang-dae
(N.N. Sci. Co., E&C Tower, #102, 46 Yangpyeong-dong 3-ga, Yeongdeungpo-gu, Seoul 150-103, KOR)
資料名：
Engineering Failure Analysis
(Engineering Failure Analysis)
巻： 28 ページ： 252-263 発行年： 2013年03月
JST資料番号： W0684A ISSN： 1350-6307 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： イギリス (GBR) 言語： 英語 (EN)
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