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文献
J-GLOBAL ID：201302285181503601
整理番号：13A1824701
PVT変化の下での電圧スケール保持のためのフリップフロップの状態インテグリティ改善
Improved State Integrity of Flip-Flops for Voltage Scaled Retention Under PVT Variation
YANG Sheng
(Univ. Southampton, GBR)
,
KHURSHEED Saqib
(Univ. Southampton, GBR)
,
AL-HASHIMI Bashir M.
(Univ. Southampton, GBR)
,
FLYNN David
(ARM Ltd., Cambridge, GBR)
,
MERRETT Geoff V.
(Univ. Southampton, GBR)
資料名：
IEEE Transactions on Circuits and Systems 1: Regular Papers
(IEEE Transactions on Circuits and Systems 1: Regular Papers)
巻： 60 号： 11 ページ： 2953-2961 発行年： 2013年11月
JST資料番号： C0226B ISSN： 1549-8328 CODEN： ITCSCH 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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