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J-GLOBAL ID：201302286369603820 整理番号：13A1856979

対称的蛇行したNiFe/Cu/NiFe薄膜センサの製作と巨大磁気インピーダンスに対する磁界方向と膜厚の影響の検討

Fabrication of symmetrical meandering NiFe/Cu/NiFe film sensors and study of the effects of field direction and film thickness on giant magnetoimpedance

著者 (5件)：

WANG Tao

(Shanghai Jiao Tong Univ., National Key Lab. of Sci. and Technol. on Nano/Micro Fabrication Technol., Res. Inst. of ...)

,

LEI Chong

(Shanghai Jiao Tong Univ., National Key Lab. of Sci. and Technol. on Nano/Micro Fabrication Technol., Res. Inst. of ...)

,

LEI Jian

(Shanghai Jiao Tong Univ., National Key Lab. of Sci. and Technol. on Nano/Micro Fabrication Technol., Res. Inst. of ...)

,

YANG Zhen

(Shanghai Jiao Tong Univ., National Key Lab. of Sci. and Technol. on Nano/Micro Fabrication Technol., Res. Inst. of ...)

,

ZHOU Yong

(Shanghai Jiao Tong Univ., National Key Lab. of Sci. and Technol. on Nano/Micro Fabrication Technol., Res. Inst. of ...)

資料名：

Microsystem Technologies (Microsystem Technologies)

巻： 19 号： 12 ページ： 1945-1952 発行年： 2013年12月
JST資料番号： W2056A ISSN： 0946-7076 資料種別：逐次刊行物 (A)
記事区分：原著論文発行国：ドイツ (DEU) 言語：英語 (EN)

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