文献
J-GLOBAL ID:201302287610857517
整理番号:13A0035973
高エネルギー領域のシンクロトロンX線マイクロトモグラフィーの空間解像度:X線エネルギーと試料-検出器間距離の効果
Spatial resolution of synchrotron x-ray microtomography in high energy range: Effect of x-ray energy and sample-to-detector distance
著者 (7件):
SEO D.
(Dep. of Mechanical Engineering, Toyohashi Univ. of Technol., Toyohashi, Aichi 441-8580, JPN)
,
TOMIZATO F.
(Dep. of Mechanical Engineering, Toyohashi Univ. of Technol., Toyohashi, Aichi 441-8580, JPN)
,
TODA H.
(Dep. of Mechanical Engineering, Toyohashi Univ. of Technol., Toyohashi, Aichi 441-8580, JPN)
,
UESUGI K.
(Japan Synchrotron Radiation Res. Inst., Mikazuki, Sayo, Hyogo 679-5198, JPN)
,
TAKEUCHI A.
(Japan Synchrotron Radiation Res. Inst., Mikazuki, Sayo, Hyogo 679-5198, JPN)
,
SUZUKI Y.
(Japan Synchrotron Radiation Res. Inst., Mikazuki, Sayo, Hyogo 679-5198, JPN)
,
KOBAYASHI M.
(Dep. of Mechanical Engineering, Toyohashi Univ. of Technol., Toyohashi, Aichi 441-8580, JPN)
資料名:
Applied Physics Letters
(Applied Physics Letters)
巻:
101
号:
26
ページ:
261901-261901-5
発行年:
2012年12月24日
JST資料番号:
H0613A
ISSN:
0003-6951
CODEN:
APPLAB
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
短報
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)