文献
J-GLOBAL ID:201302289261577652
整理番号:12A1790875
ハーメチックシールされた電磁継電器に関する加速貯蔵劣化試験と寿命延長の評価方法
Accelerated Storage Degradation Test and Life Extension Assessment Method for Hermetically Sealed Electromagnetic Relay
著者 (3件):
SUN Bo
(Beihang Univ., Beijing, CHN)
,
FENG Qiang
(Beihang Univ., Beijing, CHN)
,
ZENG Shengkui
(Beihang Univ., Beijing, CHN)
資料名:
Information (Koganei)
(Information (Koganei))
巻:
15
号:
12(B)
ページ:
5847-5858
発行年:
2012年12月
JST資料番号:
L7416A
ISSN:
1343-4500
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
日本 (JPN)
言語:
英語 (EN)