文献
J-GLOBAL ID:201302290126678447
整理番号:13A1052781
RFスパッタによるZnSnN2の構造およびオプトエレクトロニックキャラクタリゼーション
Structural and Optoelectronic Characterization of RF Sputtered ZnSnN2
著者 (6件):
LAHOURCADE Lise
(California Inst. Technol., CA, USA)
,
CORONEL Naomi C.
(California Inst. Technol., CA, USA)
,
DELANEY Kris T.
(Univ. California, CA, USA)
,
SHUKLA Sujeet K.
(California Inst. Technol., CA, USA)
,
SPALDIN Nicola A.
(ETH Zurich, Zurich, CHE)
,
ATWATER Harry A.
(California Inst. Technol., CA, USA)
資料名:
Advanced Materials
(Advanced Materials)
巻:
25
号:
18
ページ:
2562-2566
発行年:
2013年05月14日
JST資料番号:
W0001A
ISSN:
0935-9648
CODEN:
ADVMEW
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
短報
発行国:
ドイツ (DEU)
言語:
英語 (EN)