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文献
J-GLOBAL ID:201302290126678447   整理番号:13A1052781

RFスパッタによるZnSnN2の構造およびオプトエレクトロニックキャラクタリゼーション

Structural and Optoelectronic Characterization of RF Sputtered ZnSnN2
著者 (6件):
LAHOURCADE Lise
(California Inst. Technol., CA, USA)
CORONEL Naomi C.
(California Inst. Technol., CA, USA)
DELANEY Kris T.
(Univ. California, CA, USA)
SHUKLA Sujeet K.
(California Inst. Technol., CA, USA)
SPALDIN Nicola A.
(ETH Zurich, Zurich, CHE)
ATWATER Harry A.
(California Inst. Technol., CA, USA)

資料名:
Advanced Materials  (Advanced Materials)

巻: 25  号: 18  ページ: 2562-2566  発行年: 2013年05月14日 
JST資料番号: W0001A  ISSN: 0935-9648  CODEN: ADVMEW  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 短報  発行国: ドイツ (DEU)  言語: 英語 (EN)
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