文献
J-GLOBAL ID:201302294077487105
整理番号:13A0358976
金薄膜におけるサイズ効果 4KでのHall効果の測定による電子-表面散乱と電子-結晶粒界散乱との識別
Size effects in thin gold films: Discrimination between electron-surface and electron-grain boundary scattering by measuring the Hall effect at 4 K
著者 (6件):
HENRIQUEZ Ricardo
(Departamento de Fisica, Universidad Tecnica Federico Santa Maria, Av. Espana 1680, Casilla 110-V, Valparaiso, CHL)
,
MORAGA Luis
(Departamento de Fisica, Facultad de Ciencias Fisicas y Matematicas, Universidad de Chile, Blanco Encalada 2008 ...)
,
KREMER German
(Bachillerato, Universidad de Chile, Las Palmeras 3425, Santiago 7800024, CHL)
,
FLORES Marcos
(Departamento de Fisica, Facultad de Ciencias Fisicas y Matematicas, Universidad de Chile, Blanco Encalada 2008 ...)
,
ESPINOSA Andres
(Departamento de Fisica, Facultad de Ciencias Fisicas y Matematicas, Universidad de Chile, Blanco Encalada 2008 ...)
,
MUNOZ Raul C.
(Departamento de Fisica, Facultad de Ciencias Fisicas y Matematicas, Universidad de Chile, Blanco Encalada 2008 ...)
資料名:
Applied Physics Letters
(Applied Physics Letters)
巻:
102
号:
5
ページ:
051608-051608-4
発行年:
2013年02月04日
JST資料番号:
H0613A
ISSN:
0003-6951
CODEN:
APPLAB
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
短報
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)