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文献
J-GLOBAL ID:201302295401495414   整理番号:13A0855991

有機発光ダイオードにおける溶液の信頼度に対する電気劣化の効果

Effect of Electrical Aging on Reliability of Solution In Organic Light Emitting Diode
著者 (6件):
PARK Hyun-Ae
(SungKyunKwan Univ., Gyeonggi-Do, KOR)
CHOI Sung-Ho
(SungKyunKwan Univ., Gyeonggi-Do, KOR)
CHOI Byoung-Deog
(SungKyunKwan Univ., Gyeonggi-Do, KOR)
LEE Sun-Hee
(Samsung Mobile Display Co., LTD., Gyeonggi-Do, KOR)
SONG Won-Jun
(Samsung Mobile Display Co., LTD., Gyeonggi-Do, KOR)
KIM Sung-Chul
(Samsung Mobile Display Co., LTD., Gyeonggi-Do, KOR)

資料名:
Digest of Technical Papers. SID International Symposium (Society for Information Display)  (Digest of Technical Papers. SID International Symposium (Society for Information Display))

巻: 43  号: Book 3  ページ: 1523-1526  発行年: 2012年06月 
JST資料番号: E0907A  ISSN: 0097-966X  資料種別: 会議録 (C)
発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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