文献
J-GLOBAL ID:201302295515161982
整理番号:13A1149433
パワーサイクリングによりストレスした接続線-IGBTモジュールの加齢を推定するためのリアルタイム法としてのVceモニタリングの評価
Evaluation of Vce Monitoring as a Real-Time Method to Estimate Aging of Bond Wire-IGBT Modules Stressed by Power Cycling
著者 (5件):
SMET Vanessa
(Univ. Montpellier 2, Montpellier, FRA)
,
FOREST Francois
(Univ. Montpellier 2, Montpellier, FRA)
,
HUSELSTEIN Jean-Jacques
(Univ. Montpellier 2, Montpellier, FRA)
,
RASHED Amgad
(Univ. Montpellier 2, Montpellier, FRA)
,
RICHARDEAU Frederic
(Inst. National Polytechnique Toulouse, Toulouse, FRA)
資料名:
IEEE Transactions on Industrial Electronics
(IEEE Transactions on Industrial Electronics)
巻:
60
号:
7
ページ:
2760-2770
発行年:
2013年07月
JST資料番号:
C0234A
ISSN:
0278-0046
CODEN:
ITIED6
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)