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文献
J-GLOBAL ID：201302298089391834
整理番号：13A0988844
亀裂/穴のある高温超伝導薄膜における遮蔽電流密度を解析する仮想電圧法
Virtual Voltage Method for Analyzing Shielding Current Density in High-Temperature Superconducting Film With Cracks/Holes
KAMITANI Atsushi
(Yamagata Univ., Yamagata, JPN)
,
TAKAYAMA Teruou
(Yamagata Univ., Yamagata, JPN)
,
IKUNO Soichiro
(Tokyo Univ. Technol., Tokyo, JPN)
資料名：
IEEE Transactions on Magnetics
(IEEE Transactions on Magnetics)
巻： 49 号： 5 ページ： 1877-1880 発行年： 2013年05月
JST資料番号： A0339B ISSN： 0018-9464 CODEN： IEMGAQ 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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