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文献
J-GLOBAL ID：201302299714504363
整理番号：13A0310401
ナノ結晶/アモルファス複合物からのゆらぎ電子顕微鏡の分析的および計算論的モデリング
Analytical and computational modeling of fluctuation electron microscopy from a nanocrystal/amorphous composite
YI Feng
(Univ. Wisconsin-Madison, WI, USA)
,
VOYLES P.M.
(Univ. Wisconsin-Madison, WI, USA)
資料名：
Ultramicroscopy
(Ultramicroscopy)
巻： 122 ページ： 37-47 発行年： 2012年11月
JST資料番号： W0972A ISSN： 0304-3991 CODEN： ULTRD 資料種別： 逐次刊行物 (A)
発行国： オランダ (NLD) 言語： 英語 (EN)
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