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文献
J-GLOBAL ID:201402200909853770   整理番号:14A0054005

劣化状態同定および残余耐用年数推定のための新しいマルチ隠れ半Markovモデル

A Novel Multi-hidden Semi-Markov Model for Degradation State Identification and Remaining Useful Life Estimation
著者 (2件):
SU Chun
(Southeast Univ., Nanjing, CHN)
SHEN Jinyun
(Southeast Univ., Nanjing, CHN)

資料名:
Quality and Reliability Engineering International  (Quality and Reliability Engineering International)

巻: 29  号:ページ: 1181-1192  発行年: 2013年12月 
JST資料番号: C0764C  ISSN: 0748-8017  CODEN: QREIE5  資料種別: 逐次刊行物 (A)
発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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