文献
J-GLOBAL ID:201402200909853770
整理番号:14A0054005
劣化状態同定および残余耐用年数推定のための新しいマルチ隠れ半Markovモデル
A Novel Multi-hidden Semi-Markov Model for Degradation State Identification and Remaining Useful Life Estimation
著者 (2件):
SU Chun
(Southeast Univ., Nanjing, CHN)
,
SHEN Jinyun
(Southeast Univ., Nanjing, CHN)
資料名:
Quality and Reliability Engineering International
(Quality and Reliability Engineering International)
巻:
29
号:
8
ページ:
1181-1192
発行年:
2013年12月
JST資料番号:
C0764C
ISSN:
0748-8017
CODEN:
QREIE5
資料種別:
逐次刊行物 (A)
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)