文献
J-GLOBAL ID:201402201129012274
整理番号:14A0141442
フリップフロップ重イオンシングルイベントアップセット断面積の技術スケーリング比較
Technology Scaling Comparison of Flip-Flop Heavy-Ion Single-Event Upset Cross Sections
著者 (14件):
GASPARD N.J.
(Vanderbilt Univ., TN, USA)
,
JAGANNATHAN S.
(Vanderbilt Univ., TN, USA)
,
DIGGINS Z.J.
(Vanderbilt Univ., TN, USA)
,
KING M.P.
(Vanderbilt Univ., TN, USA)
,
WEN S-J.
(Cisco Systems, Inc., CA, USA)
,
WONG R.
(Cisco Systems, Inc., CA, USA)
,
LOVELES T.D.
(Vanderbilt Univ., TN, USA)
,
LILJA K.
(Robust Chip, Inc., CA, USA)
,
BOUNASSER M.
(Robust Chip, Inc., CA, USA)
,
REECE T.
(Vanderbilt Univ., TN, USA)
,
WITULSKI A.F.
(Vanderbilt Univ., TN, USA)
,
HOLMAN W.T.
(Vanderbilt Univ., TN, USA)
,
BHUVA B.L.
(Vanderbilt Univ., TN, USA)
,
MASSENGILL L.W.
(Vanderbilt Univ., TN, USA)
資料名:
IEEE Transactions on Nuclear Science
(IEEE Transactions on Nuclear Science)
巻:
60
号:
6,Pt.1
ページ:
4368-4373
発行年:
2013年12月
JST資料番号:
C0235A
ISSN:
0018-9499
CODEN:
IETNAE
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)