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J-GLOBAL ID：201402204249733225 整理番号：14A1098837

直径700nm Biナノワイヤーのホール係数測定とキャリア移動度評価

著者 (4件)：

村田正行

(産業技術総合研)

山本淳

(産業技術総合研)

長谷川靖洋

(埼玉大)

小峰啓史

(茨城大)

資料名：

応用物理学会秋季学術講演会講演予稿集(CD-ROM) (Extended Abstracts. JSAP Autumn Meeting (CD-ROM))

巻： 75th ページ： ROMBUNNO.18P-A7-14 発行年： 2014年09月01日
JST資料番号： Y0055B ISSN： 2758-4704 資料種別：会議録 (C)
記事区分：短報発行国：日本 (JPN) 言語：日本語 (JA)

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