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文献
J-GLOBAL ID：201402205306703270
整理番号：14A1497077
表面および薄膜のX線光子相関分光研究
X-ray Photon Correlation Spectroscopy Studies of Surfaces and Thin Films
SINHA Sunil K.
(Dept. of Physics, Univ. of California San Diego, 9500 Gilman Drive, La Jolla, CA, 92093-0319, USA)
,
JIANG Zhang
,
LURIO Laurence B.
資料名：
Advanced Materials
(Advanced Materials)
巻： 26 号： 46 ページ： 7764-7785 発行年： 2014年12月
JST資料番号： W0001A ISSN： 0935-9648 CODEN： ADVMEW 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 文献レビュー 発行国： ドイツ (DEU) 言語： 英語 (EN)
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