文献
J-GLOBAL ID:201402206316516687
整理番号:14A1064741
その場RF-MBE法によるAlN/GaNヘテロ構造上への結晶化AlOxの成長
Growth of crystallized AlO x on AlN/GaN heterostructures by in-situ RF-MBE
著者 (4件):
SUGIURA Yohei
(Dep. of Electrical Engineering and Electronics, Graduate School of Engineering, Kogakuin Univ., 2665-1 Nakano ...)
,
SUGIURA Yohei
(National Inst. of Information and Communications Technol., 4-2-1 Nukui-Kitamachi, Koganei, Tokyo 184-8795, JPN)
,
HONDA Tohru
(Dep. of Electrical Engineering and Electronics, Graduate School of Engineering, Kogakuin Univ., 2665-1 Nakano ...)
,
HIGASHIWAKI Masataka
(National Inst. of Information and Communications Technol., 4-2-1 Nukui-Kitamachi, Koganei, Tokyo 184-8795, JPN)
資料名:
Journal of Crystal Growth
(Journal of Crystal Growth)
巻:
405
ページ:
64-67
発行年:
2014年11月01日
JST資料番号:
B0942A
ISSN:
0022-0248
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
オランダ (NLD)
言語:
英語 (EN)