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文献
J-GLOBAL ID:201402215732739350   整理番号:14A0720024

微小角入射X線光子相関分光法によって調べたシルセスキオキサン官能化ポリスチレン薄膜の動的変動

Dynamical Fluctuation of Silsesquioxane Functionalized Polystyrene Thin Film Studied by Grazing Incidence X-ray Photon Correlation Spectroscopy
著者 (23件):
HOSHINO Taiki
HOSHINO Taiki
(RIKEN, Hyogo, JPN)
MURAKAMI Daiki
MURAKAMI Daiki
(RIKEN, Hyogo, JPN)
OGAWA Shigesaburo
OGAWA Shigesaburo
(RIKEN, Hyogo, JPN)
HIGAKI Yuji
HIGAKI Yuji
(RIKEN, Hyogo, JPN)
HIGAKI Yuji
(Graduate School of Engineering Kyushu Univ.)
HIGAKI Yuji
(IMCE Kyushu Univ.)
SATO Masanao
(Graduate School of Engineering Kyushu Univ.)
HIRAI Tomoyasu
(RIKEN, Hyogo, JPN)
HIRAI Tomoyasu
(Graduate School of Engineering Kyushu Univ.)
HIRAI Tomoyasu
(IMCE Kyushu Univ.)
TANAKA Yoshihito
(RIKEN, Hyogo, JPN)
TAKATA Masaki
(RIKEN, Hyogo, JPN)
JINNAI Hiroshi
JINNAI Hiroshi
(RIKEN, Hyogo, JPN)
JINNAI Hiroshi
(IMCE Kyushu Univ.)
TAKAHARA Atsushi
TAKAHARA Atsushi
(RIKEN, Hyogo, JPN)
TAKAHARA Atsushi
(Graduate School of Engineering Kyushu Univ.)
TAKAHARA Atsushi
(IMCE Kyushu Univ.)

資料名:
高分子学会予稿集(CD-ROM)  (高分子学会討論会予稿集(CD-ROM))

巻: 63  号:ページ: ROMBUNNO.2L25  発行年: 2014年05月09日 
JST資料番号: Z0703C  資料種別: 会議録 (C)
記事区分: 原著論文  発行国: 日本 (JPN)  言語: 英語 (EN)
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