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文献
J-GLOBAL ID：201402216321611634
整理番号：14A0369448
広域逆格子マップ測定によるc面サファイア基板上ZnTe薄膜の評価
相場貴之
(早大 先進理工)
,
中須大蔵
(早大 先進理工)
,
山下聡太郎
(早大 先進理工)
,
SUN W.
(早大 先進理工)
,
田栗光祐
(早大 先進理工)
,
服部翔太
(早大 先進理工)
,
風見蕗乃
(早大 先進理工)
,
小林正和
(早大 先進理工)
,
小林正和
(早大 材研)
,
都甲浩芳
(NTT)
,
朝日聡明
(JX金属)
資料名：
応用物理学会春季学術講演会講演予稿集(CD-ROM)
(Extended Abstracts. JSAP Spring Meeting (CD-ROM))
巻： 61st ページ： ROMBUNNO.18A-D2-2 発行年： 2014年03月03日
JST資料番号： Y0054B ISSN： 2436-7613 資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報 発行国： 日本 (JPN) 言語： 日本語 (JA)
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