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J-GLOBAL ID：201402220197549973 整理番号：14A1122205

走査透過型電子顕微鏡での後方散乱電子像の単純な取得法

A simple way to obtain backscattered electron images in a scanning transmission electron microscope

著者 (4件)：

TSURUTA Hiroki

(Nagoya Univ., Nagoya, JPN)

TANAKA Shigeyasu

(Nagoya Univ., Nagoya, JPN)

TANJI Takayoshi

(Nagoya Univ., Nagoya, JPN)

MORITA Chiaki

(Meijo Univ., Nagoya, JPN)

資料名：

Microscopy (Microscopy)

巻： 63 号： 4 ページ： 333-336 発行年： 2014年08月
JST資料番号： W1384A ISSN： 2050-5698 資料種別：逐次刊行物 (A)
記事区分：短報発行国：イギリス (GBR) 言語：英語 (EN)

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