文献
J-GLOBAL ID:201402223756226526
整理番号:14A0495309
GaNパワートランジスタのスイッチング損失を測定するための非侵襲的方法
A Non-Intrusive Method for Measuring Switching Losses of GaN Power Transistors
著者 (4件):
BRANDELERO J.
(CIRTEM, Toulouse, FRA)
,
COUGO B.
(Univ. Toulouse, Toulouse, FRA)
,
MEYNARD T.
(Univ. Toulouse, Toulouse, FRA)
,
VIDEAU N.
(Univ. Toulouse, Toulouse, FRA)
資料名:
Annual Conference of the IEEE Industrial Electronics Society
(Annual Conference of the IEEE Industrial Electronics Society)
巻:
39th Vol.1
ページ:
246-251
発行年:
2013年
JST資料番号:
H0475B
ISSN:
1553-572X
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)