文献
J-GLOBAL ID:201402231974224554
整理番号:14A0482463
X線反射率測定によるNi/Zr系の特性評価
Characterization of Ni/Zr System by X-Ray Reflectivity Measurements
著者 (3件):
BHATTACHARYA Debarati
(Bhabha Atomic Res. Centre, Mumbai)
,
MOUNDEKAR Pooja
(Univ. Mumbai-Kalina Campus, Mumbai)
,
BASU Saibal
(Bhabha Atomic Res. Centre, Mumbai)
資料名:
AIP Conference Proceedings
(AIP Conference Proceedings)
巻:
1512 Pt.B
ページ:
768-769
発行年:
2013年
JST資料番号:
D0071C
ISSN:
0094-243X
資料種別:
会議録 (C)
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)