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文献
J-GLOBAL ID:201402234184331120   整理番号:14A0706660

高い横方向分解能の質量イメージング分析法に使う集束した高質量クラスタイオン源の新しいSIMSシステム

Novel SIMS system with focused massive cluster ion source for mass imaging spectrometry with high lateral resolution
著者 (11件):
MATSUO Jiro
(Kyoto Univ., Kyoto, JPN)
MATSUO Jiro
(JST-CREST, Tokyo, JPN)
TORII Souta
(Kyoto Univ., Kyoto, JPN)
YAMAUCHI Kazuki
(Kyoto Univ., Kyoto, JPN)
WAKAMOTO Keisuke
(Kyoto Univ., Kyoto, JPN)
KUSAKARI Masakazu
(Kyoto Univ., Kyoto, JPN)
NAKAGAWA Shunichiro
(Kyoto Univ., Kyoto, JPN)
FUJII Makiko
(Kyoto Univ., Kyoto, JPN)
AOKI Takaaki
(Kyoto Univ., Kyoto, JPN)
SEKI Toshio
(Kyoto Univ., Kyoto, JPN)
SEKI Toshio
(JST-CREST, Tokyo, JPN)

資料名:
Applied Physics Express  (Applied Physics Express)

巻:号:ページ: 056602.1-056602.3  発行年: 2014年05月 
JST資料番号: F0599C  ISSN: 1882-0778  CODEN: APEPC4  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 短報  発行国: イギリス (GBR)  言語: 英語 (EN)
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