文献
J-GLOBAL ID:201402234184331120
整理番号:14A0706660
高い横方向分解能の質量イメージング分析法に使う集束した高質量クラスタイオン源の新しいSIMSシステム
Novel SIMS system with focused massive cluster ion source for mass imaging spectrometry with high lateral resolution
著者 (11件):
MATSUO Jiro
(Kyoto Univ., Kyoto, JPN)
,
MATSUO Jiro
(JST-CREST, Tokyo, JPN)
,
TORII Souta
(Kyoto Univ., Kyoto, JPN)
,
YAMAUCHI Kazuki
(Kyoto Univ., Kyoto, JPN)
,
WAKAMOTO Keisuke
(Kyoto Univ., Kyoto, JPN)
,
KUSAKARI Masakazu
(Kyoto Univ., Kyoto, JPN)
,
NAKAGAWA Shunichiro
(Kyoto Univ., Kyoto, JPN)
,
FUJII Makiko
(Kyoto Univ., Kyoto, JPN)
,
AOKI Takaaki
(Kyoto Univ., Kyoto, JPN)
,
SEKI Toshio
(Kyoto Univ., Kyoto, JPN)
,
SEKI Toshio
(JST-CREST, Tokyo, JPN)
資料名:
Applied Physics Express
(Applied Physics Express)
巻:
7
号:
5
ページ:
056602.1-056602.3
発行年:
2014年05月
JST資料番号:
F0599C
ISSN:
1882-0778
CODEN:
APEPC4
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
短報
発行国:
イギリス (GBR)
言語:
英語 (EN)