文献
J-GLOBAL ID:201402236086596828
整理番号:14A0495310
実際の励磁状態下でのインダクタ損失中の巻線損失を見分ける新しい簡単な方法
A Novel and Simple Method to Distinguish Winding Loss from Inductor Loss Under Practical Excitations
著者 (4件):
WANG Wenbo
(Delft Univ. Technol., Delft, NLD)
,
DE HAAN Sjoerd
(Delft Univ. Technol., Delft, NLD)
,
FERREIRA Jan A.
(Delft Univ. Technol., Delft, NLD)
,
PANSIER Frans
(NXP Semiconductors, Nijmegen, NLD)
資料名:
Annual Conference of the IEEE Industrial Electronics Society
(Annual Conference of the IEEE Industrial Electronics Society)
巻:
39th Vol.1
ページ:
252-257
発行年:
2013年
JST資料番号:
H0475B
ISSN:
1553-572X
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)